Установлено, что для любых двух точек поверхностного поля отношение его значений в этих точках имеет объективные пределы, не зависящие от свойств источника поля. На основании данной закономерности предложена так называемая теория экстремального поля. Приведены примеры ее практического применения в виде методик экстремального прогноза, определения погрешности картограмм и выбора объема измерений полей излучений поверхностного типа. Материалы статьи могут служить развитию методологической основы дозиметрии и быть полезными при решении вопросов нормирования и стандартизации в области радиационной защиты.
Встановлено, що для будь-яких двох точок поверхневого поля відношення його значень у цих точках має об’єктивні границі, які не залежать від властивостей джерела поля. На підставі цієї закономірності запропоновано так звану теорію екстремального поля. Наведено приклади практичного застосування запропонованої теорії у вигляді методик екстремального прогнозу, визначення похибки картограм і вибору обсягу вимірювань полів випромінювань поверхневого типу. Матеріали статті можуть служити розвитку методологічної основи дозиметрії та бути корисними у вирішенні питань нормування та стандартизації у сфері радіаційного захисту.
It is identified that for any two points of a surface field, the relation of its values at those points has objective limits that do not depend on the field source properties. Based on this pattern, the so-called extreme field theory is proposed. Examples on applications of this theory are provided in the form of methods for extreme prediction, determination of cartogram errors and selection of scope for measurement of surface-type radiation fields.The paper may serve for development of radiation control guidelines and be useful in resolution of issues related to regulation and standardization of radiation protection.
