Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Інші назви:
Експрес-метод контролю якості напівпровідникових діодних кристалів
Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics
Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics
Тема:
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
Посилання:
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
Дата:
2004
Переглядів:
982
Завантажень:
749
Анотація:
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
