Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов

dc.contributor.author	Павлюк, С.П.
dc.contributor.author	Ищук, Л.В.
dc.contributor.author	Кислицын, В.М.
dc.date.accessioned	2014-02-01T22:20:39Z
dc.date.available	2014-02-01T22:20:39Z
dc.date.issued	2004
dc.identifier.citation	Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/54435
dc.description.abstract	Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Интегральные схемы и полупроводниковые приборы	uk_UA
dc.title	Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов	uk_UA
dc.title.alternative	Експрес-метод контролю якості напівпровідникових діодних кристалів	uk_UA
dc.title.alternative	Express-method of semiconductor diode crystal quality diagnostics	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA