Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Домашня сторінка
→
Хімічні та біологічні науки
→
Відділення хімії
→
Украинский химический журнал
→
Украинский химический журнал, 1983 (том 49)
→
Украинский химический журнал, 1983 (том 49), № 02
→
Переглянути статтю

Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза

Васько, А.Т. ; Циковкин, Е.М. ; Краснов, Ю.С.

Інші назви: Application of the Method of Laser Interferometry for Determining the Growth Rate of Thin CdSe Films in Electrolysis

Тема: Электрохимия

УДК: 535.417:541.135:546.23.

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/182419

Посилання: Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Дата: 1983

Завантажень: 102