Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | Васько, А.Т. | |
| dc.contributor.author | Циковкин, Е.М. | |
| dc.contributor.author | Краснов, Ю.С. | |
| dc.date.accessioned | 2022-01-02T17:31:47Z | |
| dc.date.available | 2022-01-02T17:31:47Z | |
| dc.date.issued | 1983 | |
| dc.identifier.citation | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза / А.Т. Васько, Е.М. Циковкин, Ю.С. Краснов // Украинский химический журнал. — 1983. — Т. 49, № 2. — С. 156-159. — Бібліогр.: 4 назв. — рос. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 0041–6045 | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/182419 | |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Украинский химический журнал | |
| dc.subject | Электрохимия | uk_UA |
| dc.title | Применение метода лазерной интерферометрии для определения скорости роста тонких пленок CdSe в процессе электролиза | uk_UA |
| dc.title.alternative | Application of the Method of Laser Interferometry for Determining the Growth Rate of Thin CdSe Films in Electrolysis | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
| dc.identifier.udc | 535.417:541.135:546.23. |
