Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией

Abstract

Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажнокасторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально –логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика.

Приведені результати ресурсних випробувань секцій високовольтних імпульсних конденсаторів з паперовокасторовим діелектриком. Визначені залежності середнього ресурсу і середнього квадратичного відхилення для нормально-логарифмічного розподілу відмов від товщини діелектрика.

Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.