Silicon crystal strength reduction due to magnetoresonance

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства
→
Functional Materials
→
Functional Materials, 2007, том 14
→
Functional Materials, 2007, № 2
→
Переглянути статтю

Silicon crystal strength reduction due to magnetoresonance

Makara, V.A. ; Pogorilyi, A.M. ; Steblenko, L.P. ; Kuryliuk, A.M. ; Naumenko, S.M. ; Kobzar, Yu.L. ; Kravets, A.F. ; Podyalovsky, D.I. ; Matveeva, O.V.

Інші назви: Магніторезонансне знеміцнення кристалів кремнію

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136494

Посилання: Silicon crystal strength reduction due to magnetoresonance / V.A. Makara, A.M. Pogorilyi, L.P. Steblenko, A.M. Kuryliuk, S.M. Naumenko, Yu.L. Kobzar, A.F. Kravets, D.I. Podyalovsky, O.V. Matveeva // Functional Materials. — 2007. — Т. 14, № 2. — С. 192-194. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Дата: 2007

Завантажень: 228

Silicon crystal strength reduction due to magnetoresonance

Анотація:

The magnetoresonance influence as well as the micrawave superhigh-frequency (SHF) magnetic field effect on the microhardness of silicon crystals has been studied. It is established that the action of SHF field results in decreasing microhardness, which does not relax for initial value during a long time (50 days). A mechanism has been suggested for the revealed effects.

Показати повний запис статті