Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Increasing the sensitivity of X-ray fluorescent scheme with secondary radiator using the initial spectrum filtration
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Increasing the sensitivity of X-ray fluorescent scheme with secondary radiator using the initial spectrum filtration
Інші назви:
Підвищення чутливості рентгенофлуоресцентної схеми з вторинним випромінювачем шляхом фільтрації первинного спектра
Тема:
Devices and instruments
Посилання:
Increasing the sensitivity of X-ray fluorescent scheme with secondary radiator using the initial spectrum filtration / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, A.I. Mikhailov, S.S. Borisova // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 1. — С. 126-129. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
Дата:
2012
Переглядів:
740
Завантажень:
300
Анотація:
Optimization of the primary filter in the scheme with fluorescent re-radiator was carried out using the minimum detection limit criterion Cmin. It was established experimentally, that the filtration provides three-fourfold increase for the contrast and 70 % gain for the detection limit. For All trace impurities in ion-exchange resins, the achieved sensitivity about 1 ppm does not yield to values obtained in the complex Barkla scheme using polarized radiation.
