Толстолуцкая, Г.Д.; Копанец, И.Е.; Неклюдов, И.М.; Марченко, И.Г.
(Вопросы атомной науки и техники, 2006)
Методами каналирования и математического моделирования исследованы профили распределения нарушений, создаваемых в Ni при облучении ионами He⁺, Ar⁺, Kr⁺, Xe⁺ с энергией 0.2...1 МэВ в интервале доз 1·10¹⁵…1·10¹⁷ см⁻². ...