Показана можливість створення багатошарових покрить шляхом модифікування методики
електролітичного травлення поверхні монокристалічного кремнію. При травленні використовували добавки HСl і HBr. Методами електронної мікроскопії, рентгенофазового аналізу
встановлено, що варіювання складом електроліту і густиною струму приводить до наноструктурування поверхні кремнію в виді шарів різної товщини (200 – 400 нм), морфології і поруватого кремнію.
Показана возможность создания многослойных покрытий путем модифицирования методики
электролитического травления поверхности монокристаллического кремния. При травлении
использовали добавки HCl и HBr. Методами электронной микроскопии, рентгенофазового
анализа установлено, что варьирование составом электролита и плотностью тока приводит к
наноструктурированию поверхности кремния в виде слоев разной толщины (200 – 400 нм),
морфологии и пористости.
The possibility of creating multilayer coatings by modifying the method of electrolytic etching of single
crystal silicon. Additives used in etching and HCl HBr. By electron microscopy, X-ray diffraction
analysis showed that the variation in the composition of the electrolyte and the current density results
in a nanostructured surface of silicon in the form of layers of different thickness (200 – 400 nm),
morphology and porosity.