Физические основы многопараметрической кристаллографии: диагностика дефектов нескольких типов в монокристаллических материалах и изделиях нанотехнологий

Abstract

Работа посвящается раскрытию физической природы и разработке принципов практического применения обнаруженного недавно авторами явления уникальной структурной чувствительности и информативности зависимостей от условий дифракции картины многократного брэгговского и диффузного рассеяния рентгеновских лучей, нейтронов, электронов и других заряженных частиц в монокристаллах с дефектами.

Роботу присвячено розкриттю фізичної природи та розробці принципів практичного застосування виявленого нещодавно авторами явища унікальної структурної чутливости та інформативности залежностей від умов дифракції картини багатократного Бреґґового і дифузного розсіяння Рентґенових променів, невтронів, електронів і інших заряджених частинок у монокристалах з дефектами.

The paper deals with both the disclosure of the physical nature and the development of the practical application principles of recently discovered authoring phenomenon of unique structural sensitivity and informativity dependences on diffraction conditions of pattern of multiple Bragg and diffuse x-ray scattering as well as scattering of neutrons, electrons and another charged particles in a monocrystal with defects.