Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | Лизунов, В.В. | |
| dc.contributor.author | Кочелаб, Е.В. | |
| dc.contributor.author | Скакунова, Е.С. | |
| dc.contributor.author | Лень, Е.Г. | |
| dc.contributor.author | Молодкин, В.Б. | |
| dc.contributor.author | Олиховский, С.И. | |
| dc.contributor.author | Толмачёв, Н.Г. | |
| dc.contributor.author | Шелудченко, Б.В. | |
| dc.contributor.author | Лизунова, С.В. | |
| dc.contributor.author | Скапа, Л.Н. | |
| dc.date.accessioned | 2015-11-06T19:15:40Z | |
| dc.date.available | 2015-11-06T19:15:40Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.identifier.citation | Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент / В.В. Лизунов, Е.В. Кочелаб, Е.С. Скакунова, Е.Г. Лень, В.Б. Молодкин, С.И. Олиховский, Н.Г. Толмачёв, Б.В. Шелудченко, С.В. Лизунова, Л.Н. Скапа // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 2. — С. 349–370. — Бібліогр.: 19 назв. — рос. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 1816-5230 | |
| dc.identifier.other | PACS numbers: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 68.55.jd | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/87995 | |
| dc.description.abstract | На основе построенной в первой части работы обобщённой модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведён анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла. | uk_UA |
| dc.description.abstract | На основі побудованої у першій частині роботи узагальненої моделі дисперсійночутливої дифрактометрії неідеальних кристалів довільної товщини проведено аналіз диференційних та інтеґральних картин розсіяння для широкого інтервалу ефективних товщин кристалу. | uk_UA |
| dc.description.abstract | Based on generalized model of dispersion-sensitive diffractometry constructed in the first part for imperfect crystals of arbitrary thickness, the analysis of differential and integral scattering patterns for a wide range of effective thickness of the crystal is carried out. | uk_UA |
| dc.language.iso | ru | uk_UA |
| dc.publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології | |
| dc.title | Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент | uk_UA |
| dc.title.alternative | The Dispersion Sensitivity of Scattering Pattern to Defects Depending on Thickness of Crystalline Products of Nanotechnologies. II. Numerical Experiment | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
