Влияние циклических деформаций на электрофизические характеристики поликристаллических пленок (Bi0,3Sb0,7)2Te3

Abstract

Исследованы тензорезистивные свойства поликристаллических пленок (Bi0,3Sb0,7)2Te3 при статических и циклических деформациях. Показано, что линейный участок ВАХ по напряжению (0; 5) В в результате действия N = 5•10^5 циклов деформаций расширяется до (0; 12) В, а ТКС – изменяется от α = –5,6•10^–3 K^–1 при N = 0 до α = –2,5•10^–4 K^–1. Согласно феноменологическому расчету значение Tmin, при котором α = 0, увеличивается с ростом N.

Досліджені тензорезистивні властивості полікристалічних плівок (Bi0,3Sb0,7)2Te3 при статичних і циклічних деформаціях. Показано, що лінійна ділянка ВАХ по напрузі (0; 5) В у результаті дії N = 5•10^5 циклів деформацій розширюється до (0; 12) В, а ТКС – змінюється від α= –5,6•10^–3 K^–1 при N = 0 до α = –2,5•10^–4 K^–1. Згідно феноменологічному розрахунку значення Tmin, при якому α = 0, збільшується з ростом N.

The tensoresistance properties of polycrystalline films (Bi0,3Sb0,7)2Te3 at static and cyclic deformations have been researched. It is shown, that a linear site volt-ampere the characteristic on a voltage (0; 5) V as a result of action N = 5•10^5 cycles of deformations extends up to (0; 12) V, and temperature factor of re-sistance – changes from α = –5,6•10^–3 K^–1 at N = 0 up to α = –2,5•10^–4 K^–1. According to phenomenological calculation value Тmin, at which α = 0, it is increased with growth of N.