We have proposed a new model for the calculation of the absorbed dose profile in a thick target under 0.1…3 MeV electron
irradiation. The build-up phenomenon is shown to increase the maximum of the energy deposition profile in thick samples by a
factor of two in comparison with thin targets as a result of backscattered and multi-scattered electrons. The absorbed dose profile
in NaCl for 0.5 MeV electron irradiation has been determined by measuring the stored energy with differential scanning
calorimetry.
Запропоновано нову модель для розрахунку профілів поглиненої енергії в товстих мішенях, що
опромінюються пучком електронів з енергіями 0.1…3 МеВ. Показано, що внаслідок ефекту накопичування дози, зв'язаного з багаторазовим і зворотним розсіюванням електронів, максимальне значення поглиненої
енергії у товстих мішенях збільшується вдвічі в порівнянні з тонкими мішенями. Вивчено профіль розподілу
поглиненої енергії в кристалічній пластинці NaCl, опроміненої електронами з енергією 0.5 МеВ, шляхом
вимірювання запасеної енергії методом диференціальної скануємої калориметрії.
Предложена новая модель для расчета профилей поглощенной энергии в толстых мишенях, облучаемых
пучком электронов с энергиями 0.1…3 МэВ. Показано, что вследствие эффекта накопления дозы, связанного с многократным и обратным рассеянием электронов, максимальное значение поглощенной энергии в толстых мишенях увеличивается вдвое по сравнению с тонкими мишенями. Изучен профиль распределения
поглощенной энергии в кристаллической пластинке NaCl, облученной электронами с энергией 0.5 МэВ, путем измерения запасенной энергии методом дифференциальной сканирующей калориметрии.