Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Bigun, R.I. |
|
dc.contributor.author |
Kunitsky, Yu.A. |
|
dc.contributor.author |
Stasyuk, Z.V. |
|
dc.date.accessioned |
2014-12-23T21:03:03Z |
|
dc.date.available |
2014-12-23T21:03:03Z |
|
dc.date.issued |
2010 |
|
dc.identifier.citation |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films / R.I. Bigun, Yu.A. Kunitsky, Z.V. Stasyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2010. — Т. 8, № 1. — С. 129-142. — Бібліогр.: 50 назв. — англ. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1816-5230 |
|
dc.identifier.other |
PACS numbers: 72.10.Fk, 73.23.Ad, 73.50.Bk, 73.61.At, 85.40.Xx |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/72472 |
|
dc.description.abstract |
The problems of ultrathin stable electrically continuous metal films fabrication and their electron-transport properties are discussed. To prevent the coagulation process of metal grains during metal film condensation, the surfactant underlayers utilizing is discussed. Analysis of current theoretical concepts concerning electron-transport properties of metal film is performed. The experimental data are explained within the scope of the modern theoretical models. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
Обговорено проблему створення надтонких (товщина шару від 2 нм до 50 нм) електрично суцільних стабільних провідних шарів металів і вивчення їхніх електричних властивостей. Розглянуто можливість застосування сурфактантних підшарів для запобігання коаґуляції зародків кристалізації в процесі росту плівок. Здійснено аналізу сучасного стану модельних уявлень про перенесення заряду в металевих зразках обмежених розмірів, і на його основі проведено трактування результатів експериментального дослідження надтонких металевих плівок. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
Обсуждается проблема создания сверхтонких (толщина слоя от 2 нм до 50 нм) электрически сплошных проводящих стабильных слоев металлов и исследования их электрических свойств. Рассмотрена возможность применения сурфактантных подслоев для предотвращения коагуляции зародышей кристаллизации в процессе роста пленок. Сделан анализ современного состояния модельных представлений о переносе заряда в металлических образцах ограниченных размеров, и на его основе проведена трактовка результатов экспериментального исследования сверхтонких металлических пленок. |
uk_UA |
dc.language.iso |
en |
uk_UA |
dc.publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|
dc.title |
A Charge Transport in Ultrathin Electrically Continuous Metal Films |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті