Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Крылов, В.Н.
dc.contributor.author Антощук, С.Г.
dc.contributor.author Щербакова, Г.Ю.
dc.date.accessioned 2014-11-18T06:54:23Z
dc.date.available 2014-11-18T06:54:23Z
dc.date.issued 2000
dc.identifier.citation Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники / В.Н. Крылов, С.Г. Антощук, Г.Ю. Щербакова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 5-6. — С. 45-47. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 2225-5818
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70963
dc.description.abstract Предложена методика обработки данных при автоматизированном дефектоскопическом контроле материалов и поверхностей, алгоритмы распознавания текстурно-однородных областей и распознавания объекта на фоне текстуры. При распознавании текстурно-однородных областей проводится сегментация изображения по текстурным признакам, распознавание и классификация текстур в текстурно-однородном фрагменте. Для распознавания и классификации текстур в текстурно-однородных областях использовались геометрические моменты-признаки. uk_UA
dc.description.abstract The procedure of processing data on automation defectoskopic inspection of materials and surfaces, recognition algorithms of region homogeneous texture and object recognition on texture background has been proposed. On recognition of region homogeneous texture a segmentation of image on base texturial signs, recognition and classification textures in fragment homogeneous texture is given. For recognition and classification of textures in region homogeneous texture the geometrical momentssigns were used. uk_UA
dc.description.sponsorship По материалам доклада на МНПК «Современные информационные и электронные технологии» («СИЭТ-2000»). - 23 - 26 мая 2000 г., Одесса. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject Технология производства uk_UA
dc.title Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники uk_UA
dc.title.alternative Обробка даних при автоматизації дефектоскопичного контролю матеріалів електронної техніки uk_UA
dc.title.alternative Processing data on automation of defectoskopic inspection of electronic engineering materials uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 621.382


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис