Моисеев, В.Ф.; Зайков, В.П.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001)
Предложена и рассмотрена физическая модель, связывающая показатели надежности и основные значимые параметры термоэлектрического устройства (ТЭУ). Показано, что для повышения надежности функционирования ТЭУ следует выбирать ...