Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП

Abstract

Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно використовувати віртуальні засоби тестування та оцінювання їх параметрів.

In the article it is listed the microelectronic high-speed ADC parameters, which have to be tested and evaluated. It is shown, that at the manufacture it is expediently to use complicated and expensive equipments to evaluate parameters of high-speed ADC. But during designing of new devices on the base of high-speed ADC it is appropriate to use virtual tools for ADC parameters evaluating.