Анализ свойств наноповерхностей  по ACM изображениям

dc.contributor.author	Недзьведь, А.М.
dc.contributor.author	Абламейко, С.В.
dc.contributor.author	Недзьведь, О.В.
dc.date.accessioned	2014-04-10T14:43:01Z
dc.date.available	2014-04-10T14:43:01Z
dc.date.issued	2011
dc.identifier.citation	Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	1561-5359
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/59897
dc.description.abstract	В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие получить как их индивидуальное, так и групповое описание.	uk_UA
dc.description.abstract	У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності, такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис.	uk_UA
dc.description.abstract	In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape. This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Штучний інтелект
dc.subject	Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений	uk_UA
dc.title	Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям	uk_UA
dc.title.alternative	Аналіз властивостей наноповерхностей за ACM зображенням	uk_UA
dc.title.alternative	Analysis of Nano-Surface Features by AFM Image Processing	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	004.93'1;004.932