Закономерности деградации светоизлучающих диодов

dc.contributor.author	Викулин, И.М.
dc.contributor.author	Ирха, В.И.
dc.contributor.author	Коробицын, Б.В.
dc.contributor.author	Горбачев, В.Э.
dc.date.accessioned	2014-01-27T18:27:29Z
dc.date.available	2014-01-27T18:27:29Z
dc.date.issued	2004
dc.identifier.citation	Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/53801
dc.description.abstract	Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Контроль. Качество. Надежность	uk_UA
dc.title	Закономерности деградации светоизлучающих диодов	uk_UA
dc.title.alternative	Закономірності деградації світловипромінюючих діодів	uk_UA
dc.title.alternative	Legitimacies of a degradation of light-emitting diodes	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA