Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами

dc.contributor.author	Блецкан, Д.И.
dc.contributor.author	Лукьянчук, А.Р.
dc.contributor.author	Пекар, Я.М.
dc.date.accessioned	2014-01-10T00:36:06Z
dc.date.available	2014-01-10T00:36:06Z
dc.date.issued	2006
dc.identifier.citation	Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами / Д.И. Блецкан, А.Р Лукьянчук.,Я.М. Пекар // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2006. — № 3. — С. 59-64. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52922
dc.description.abstract	Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Материалы электроники	uk_UA
dc.title	Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами	uk_UA
dc.title.alternative	Дослідження власних та домішкових точкових дефектів в сапфірових підкладинках люмінесцентними методами	uk_UA
dc.title.alternative	Study proper and doped point defects in sapphire substrates by luminescence methods	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA