Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем

dc.contributor.author	Мокрицкий, В.А.
dc.contributor.author	Банзак, О.В.
dc.contributor.author	Волосевич, В.П.
dc.date.accessioned	2014-01-01T21:15:34Z
dc.date.available	2014-01-01T21:15:34Z
dc.date.issued	2008
dc.identifier.citation	Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52439
dc.description.abstract	Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Электронные средства: исследования, разработки	uk_UA
dc.title	Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем	uk_UA
dc.title.alternative	Дослідження радіаційної стійкості гібридних інтегральних мікросхем	uk_UA
dc.title.alternative	Electronic means: investigations, development Research of radiation stability of hybrid integrated microcircuits	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA