Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники

dc.contributor.author	Попов, В.М.
dc.contributor.author	Клименко, А.С.
dc.contributor.author	Поканевич, А.П.
dc.date.accessioned	2014-01-01T17:45:49Z
dc.date.available	2014-01-01T17:45:49Z
dc.date.issued	2008
dc.identifier.citation	Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 3. — С. 55-58. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52430
dc.description.abstract	Разработан новый метод отображения «горячих точек» в изделиях микроэлектроники, основанный на визуализации локальной холестерической фазы в смектической фазе холестерического жидкого кристалла. Приведена технология реализации метода и примеры его использования.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Технологические процессы и оборудование	uk_UA
dc.title	Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники	uk_UA
dc.title.alternative	Удосконалений метод виявлення «гарячих точок» у виробах мікроелектроніки	uk_UA
dc.title.alternative	Improved method for detection of 'hot spots' in microelectronic devices	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA