Попов, В.М.; Клименко, А.С.; Поканевич, А.П.; Самотовка, В.Л.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2011)
Метод основан на использовании визуального отображения в поляризационном микроскопе локально нагретых областей в пленке холестерического жидкого кристалла на поверхности кристалла интегральной схемы.