Моделирование и исследование переходного слоя тонкопленочных структур

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення інформатики
→
Комп’ютерні засоби, мережі та системи
→
Комп’ютерні засоби, мережі та системи, 2012
→
Комп’ютерні засоби, мережі та системи, 2012, № 11
→
Переглянути статтю

dc.contributor.author	Лебедева, Т.С.
dc.contributor.author	Озеров, М.В.
dc.contributor.author	Шпилевой, П.Б.
dc.date.accessioned	2013-06-30T12:22:44Z
dc.date.available	2013-06-30T12:22:44Z
dc.date.issued	2012
dc.identifier.citation	Моделирование и исследование переходного слоя тонкопленочных структур / Т.С. Лебедева, М.В. Озеров, П.Б. Шпилевой // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2012. — № 11. — С. 157-164. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	1817-9908
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/46500
dc.description.abstract	Представлена модель переходного слоя тонкопленочных структур, позволяющая производить расчет его толщины по профилям анодирования. Разработана программа расчета и приведены результаты расчета для структуры Nb-Al-Nb.	uk_UA
dc.description.abstract	Представлено модель перехідного шару тонкоплівкових структур, що дозволяє проводити розрахунки його товщини за профілями анодування. Розроблено програму для розрахунків та приведені результати розрахунків для структури Nb-Al-Nb.	uk_UA
dc.description.abstract	The model of interface of thin-film structures that allows to produce calculations of it’s thickness using anodization profiles as the developed software and results for structure Nb-Al-Nb are represented.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Комп’ютерні засоби, мережі та системи
dc.title	Моделирование и исследование переходного слоя тонкопленочных структур	uk_UA
dc.title.alternative	Modeling and investigation of thin-film structures interface	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	539.23;538.91:621