Розв'язання оберненої задачі дифракції через реконструкцію матриці розсіювання в обмеженому частотному діапазоні

Abstract

Запропоновано метод визначення проникності та товщини шарів плоскошаруватого діелектрика за відомими значеннями коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В основу методу покладено реконструкцію частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Високу точність обчислення досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незатухаючих комплексних експонент.

A new method for the determination of both layers' permittivity and thickness of a plane multilayer structure is proposed. The reflection coefficient of a plane electromagnetic wave is considered as initial data in the problem. The developed method is based on the reconstruction of all scattering matrix elements in a limited frequency interval. A high accuracy of the determination of both permittivity and thickness is achieved due to the identification of spectral coefficients which are separated from elements of the scattering matrix. The proposed method gains advantages from the possibility of represent these spectral coefficients by finite series of undamped complex exponents.