Исследование взаимодействия в системе MgF₂(MgO)—EuF₃—ZrF₄

Abstract

Методами рентгеновского фазового анализа, спектроскопии диффузного отражения, ИК- и люминесцентной спектроскопии изучена возможность использования легирующей двухкомпонентной добавки EuF₃—ZrF₄ для фторирования примеси MgO в материале для интерференционной оптики на основе MgF₂. Установлен характер взаимодействия кислородсодержащей примеси в MgF₂ с компонентами добавки, который состоит в обменной реакции преимущественно MgO с ZrF₄ и, в меньшей степени, с EuF₃, а также в окислительно-восстановительной реакции с образованием соединений Eu(II). Последний из процессов резко усиливается при термическом испарении материала в вакууме. Установлено, что под действием легирующей добавки примесь MgO преимущественно переходит в MgF₂.

Методами рентгенівського фазового аналізу, спектроскопії дифузного відбиття, ІЧ- і люмінесцентної спектроскопії вивчено можливість використання легуючої двокомпонентної добавки EuF₃—ZrF₄ для фторування домішки MgO в матеріалі для інтерференційної оптики на основі MgF₂. Встановлено характер взаємодії кисневмісної домішки в MgF₂ з компонентами добавки, який полягає в обмінній реакції переважно MgO з ZrF₄ і, меншою мірою, з EuF₃, а також в окисно-відновній реакції з утворенням сполук Eu(II). Останній з процесів різко посилюється при термічному випаровуванні матеріалу у вакуумі. Встановлено, що під дією легуючої добавки домішка MgO переважно переходить у MgF₂.

By the methods of X-ray phase analysis, diffuse reflectance spectroscopy, IR spectroscopy and luminescent spectroscopy it has been studied the possibility of use of the system ZrF₄—EuF₃ for fluoridation of the admixture of MgO to material for interference optics, MgF₂. The character of interaction of the oxygen — containing admixture in MgF₂ and the components of the additive, which consists of exchange reaction between MgO with ZrF₄ and to less degree, with EuF₃, and also of oxidation-reduction reaction resulting in Eu(II) compounds, is established. The last is sharply enhanced at the thermal evaporation of material in vacuum. Due to completely vanishing of MgO under the action of alloying additive it should be regarded as perspective one improvement of the properties of film-forming material based on MgF₂.