Радіохвильова надвисокочастотна діагностика розшарування у діелектричній пластині

Abstract

Розвинуто метод радіохвильового неруйнівного контролю розшарування у діелектричному шарі. Метод базується на багаточастотному зондуванні у 5-мм діапазоні довжин хвиль та розв'язанні оберненої задачі з визначенням товщин окремих шарів діелектричної структури. Експериментально визначено точність і роздільну здатність запропонованого методу.

The method of microwave non-destructive testing of exfoliation in the dielectric plate is developed. The proposed method based on multi-frequency sounding in 5-mm wave band and solving of the inverse problem for determine of dielectric structure's thickness. The precision and resolution of proposed method are evaluated.