Вплив підшарів ґерманію на структуру, електропровідність та оптичні властивості нанорозмірних плівок срібла

Abstract

Досліджено структуру, статичну електропровідність та оптичні властивості тонких плівок срібла, заморожено препарованих в умовах надвисокого вакууму на поверхні скла та поверхні скла, попередньо покритій підшарами ґерманію масовою товщиною у 0,5 нм. Ультратонкі підшари ґерманію пришвидшують металізацію шару срібла за рахунок зменшення середніх лінійних розмірів кристалітів у конденсованому шарі пари металу, що проявляється у зменшенні порогової товщини перколяційного переходу. Величини товщин плівок металу dc, що відповідають перколяційному переходу та знайдені з результатів міряння статичної електропровідности й оптичного пропускання плівок у діяпазоні довжин хвиль 300–2500 нм, добре узгоджуються між собою.

Исследованы структура, статическая электропроводность и оптические свойства тонких плёнок серебра, замороженно препарированных в условиях сверхвысокого вакуума на поверхности стекла и поверхности стекла, предварительно покрытой подслоями германия массовой толщиной 0,5 нм. Ультратонкие подслои германия ускоряют металлизацию слоя серебра за счёт уменьшения средних линейных размеров кристаллитов в конденсированном слое пара металла, что проявляется в уменьшении пороговой толщины перколяционного перехода. Величины толщин плёнок металла dc, которые соответствуют перколяционному переходу и определены из результатов измерения статической электропроводности и оптического пропускания плёнок в диапазоне длин волн 300–2500 нм, хорошо согласуются между собой.

Structure, DC electrical conductivity, and optical properties of thin silver films quench prepared under ultrahigh vacuum conditions on the surface of the bare glass and the glass precoated with germanium sublayers with a mass thickness of 0.5 nm are studied. Ultrathin films of germanium sublayers accelerate the metallization of a silver film by reducing the average linear dimensions of crystallites in the condensed layer of metal vapour that manifests itself in a decrease in the threshold thickness of the percolation transition. The dc thicknesses of metal films, which correspond to the percolation transition and are determined by measurements of DC electrical conductivity and optical transmission of films in the wavelength range λ = 300–2500 nm, agree well with each other.