Влияние диссипации энергии в приповерхностных слоях изоляции жил на диэлектрические потери в кабелях

Abstract

Вещества, образующиеся при эксплуатации кабелей, осаждаются на поверхности изолированных жил. Они являются предвестниками старения самой изоляции. Выявить приповерхностные слои возможно по результатам измерений тангенса угла диэлектрических потерь. При этом защитная поливинилхлоридная оболочка существенно влияет на результаты измерений. Диссипацию энергии приповерхностными слоями можно обнаружить за счет тангенциальной составляющей электрического поля. Разница по tgδ составляет порядок на частоте 10 кГц при реализации сложных схем обследования с тангенциальной составляющей зондирующего поля. Это есть свидетельство неравномерного распределения приповерхностных слоев в поперечном сечении кабеля.

Речовини, які образуються при експлуатації кабелів, осідають на поверхні ізольованних жил. Вони є предвісниками старіння самої ізоляції. Виявити ці приповерхневі прошарки можливо за результатами вимірювань тангеса кута діелектричних втрат. При цьому захисна полівінілхлорідна оболонка суттево впливає на результати вимірювань. За рахунок тангенціальної складової напруженності електричного поля вдається виявити дисіпацію енергії приповерхневими прошарками. Різниця по tgδ становить майже порядок на частоті 10 кГц при реалізаціі складних схем обстеження з тангенційною складовою зондуючого електричного поля. Це є ознакою, що приповерхневі прошарки нерівномірно розподілені в осерді кабеля.

Substances formed at cable operation are deposited on the surface of isolated cords. They are harbingers of the isolation ageing. Revealing nearsurface layers is possible through results of dielectric dissipation factor measurements. However, the protective polyvinylchloride jacket significantly influences measurement results. Energy dissipation in the near-surface layers can be revealed via the tangential component of an electric field. Difference in tgδ is an order at the frequency of 10 kHz under realization of complex examination circuits with the tangential component of a probing field. It is evidence of non-uniform distribution of surface layers in the cable cross-section.