The light reflection conditions near the crystal fringes are known to differ from those in the sample middle part due to additional reflections from the butt surfaces. Such effects may be insignificant (as, for example, in most standard spectrometric detectors) but may be of importance in image visualization systems (as gamma cameras). In this work, the light yield inhomogeneities near the butt surfaces of gamma camera detectors are studied. Seven types of the crystal surface treatment and the reflecting coating materials are considered.
Відомо, що поблизу країв кристала умови віддзеркалення світла відрізняються від середньої частини зразка завдяки існуванню додаткових віддзеркалень світла від торцевих поверхонь. Такі ефекти можуть бути несуттєвими (як, наприклад, для більшості стандартних спектрометричних детекторів), але у випадку систем візуалізації зображень (гамма камера, наприклад) можуть відігравати суттєву роль. У роботі досліджуються неоднорідності світлового виходу поблизу торцевих поверхонь детекторів для гама камер. Розглядаються сім варіантів обробки поверхні кристалау та вибору матеріалу світловідбиваючих покриттів.
Известно, что вблизи краев кристалла условия отражения света отличаются от таковых в средней части образца из-за дополнительных отражений света от торцевых поверхностей. Такого рода эффекты могут быть несущественными (как, например, для большинства стандартных спектроскопических детекторов), но в случае систем для визуализации изображений (гамма камера, например) могут играть существенную роль. В работе исследуются неоднородности светового выхода вблизи торцевых поверхностей детекторов для гамма камер. Рассматриваются семь вариантов обработки поверхности кристалла и выбора материала светоотражающих покрытий.
