Изучалось изменение магнитного поля образцов, изготовленных из Sm₂O₁₇-сплава, при воздействии на них электронного и фотонного излучений технологического ускорителя с энергией 10 МэВ. Проведенные исследования показали, что поле образцов не меняется при прямом облучении поверхности электронным пучком. Поглощённая доза в эксперименте составляла 16 Град. Увеличение дозы облучения в 10 раз не приводит к изменению величины поля образца. Под воздействием тормозного излучения электронов в образце, расположенном вне воздействия электронного пучка, существенного изменения поля также не наблюдается.
Вивчалася зміна магнітного поля зразків, виготовлених з Sm₂O₁₇-сплаву, при дії на них електронного і фотонного випромінювання технологічного прискорювача з енергією 10 МеВ. Проведені дослідження показали, що поле магнітів не міняється при прямому опроміненні поверхні електронним пучком. Поглинена доза в експерименті складала 16 Град. Збільшення дози опромінення в 10 разів не призводить до зміни величини поля зразка. Під впливом гальмівного випромінювання електронів у зразка, розташованому поза впливом електронного пучка, істотної зміни поля також не спостерігається.
The aim of this study was to investigate the performance of Sm₂O₁₇-magnets under 10 MeV photon irradiation in the technological accelerator. It was shown that direct irradiation of the magnets by electron beam did not result in the reduction of magnetic flux. The absorbed dose was 16 Grad. A ten times increase in the radiation dose had no effect on the magnetic flux also. Magnetic properties of the samples located beyond the direct electron irradiation and underwent the bremsstrahlung irradiation left unchanged.