Дифракційний контроль мікрорельєфу оптичних дисків

Abstract

Досліджено дифракційні характеристики мікрорельєфу оптичних дисків з різним профілем пітів. Отримано калібрувальні криві дифракції для поляризованого лазерного випромінювання з метою визначення оптичних параметрів мікрорельєфу дисків. Розраховано дифракційні властивості багатошарових дискових структур, у тому числі з металізованими поверхнями.

Исследованы дифракционные характеристики микрорельефа оптических дисков с различным профилем питов. Получены калибровочные кривые дифракции для поляризованного лазерного излучения с целью определения оптических параметров микрорельефа. Рассчитаны дифракционные свойства многослойных дисковых структур, в том числе с металлизированными поверхностями.

Microrelief diffraction characteristics of optical discs with different profile of pits are studied. Calibration diffraction curves for polarized laser light are obtained for the determination of the optical parameters of microrelief. Diffraction properties of multilayer disk structures are calculated, including metalized disc surfaces.