Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO₂/SiC structures

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Bacherikov, Yu.Yu.
dc.contributor.author Konakova, R.V.
dc.contributor.author Kolyadina, E.Yu.
dc.contributor.author Kocherov, A.N.
dc.contributor.author Okhrimenko, O.B.
dc.contributor.author Svetlichnyi, A.M.
dc.date.accessioned 2017-06-14T07:35:16Z
dc.date.available 2017-06-14T07:35:16Z
dc.date.issued 2002
dc.identifier.citation Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO₂/SiC structures / Yu.Yu. Bacherikov, R.V. Konakova, E.Yu. Kolyadina, A.N. Kocherov, O.B. Okhrimenko, A.M. Svetlichnyi // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2002. — Т. 5, № 4. — С. 391-394. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1560-8034
dc.identifier.other PACS: 78.70.Fy, 78.70.Gq
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121335
dc.description.abstract We investigated the effect of microwave radiation on absorption spectra (in 400-800 nm range) and curvature radius of SiO₂/SiC structures obtained using traditional thermal oxidation in water vapor at the temperature of 1373 К and rapid thermal annealing in dry oxygen at 1273 К. From an analysis of the sample optical density and radius of curvature variations with total duration of microwave action, we concluded that the structures obtained using rapid thermal annealing are more stable against microwave action. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.title Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO₂/SiC structures uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис