Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Вайнберг, В.В. |
|
dc.contributor.author |
Гуденко, Ю.Н. |
|
dc.contributor.author |
Порошин, В.Н. |
|
dc.contributor.author |
Tулупенко, В.Н. |
|
dc.contributor.author |
Cheng, H.H. |
|
dc.contributor.author |
Yang, Z.P. |
|
dc.contributor.author |
Mashanov, V. |
|
dc.contributor.author |
Wang, K.Y. |
|
dc.date.accessioned |
2017-06-13T10:51:46Z |
|
dc.date.available |
2017-06-13T10:51:46Z |
|
dc.date.issued |
2007 |
|
dc.identifier.citation |
Энергетические характеристики примеси бора в гетероструктурах Si/Si1-xGex при селективном легировании в центре и на краю квантовых ям / В.В. Вайнберг, Ю.Н. Гуденко, В.Н. Порошин, В.Н. Tулупенко, H.H. Cheng, Z.P. Yang, V. Mashanov, K.Y. Wang // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 10. — С. 1143–1146. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
0132-6414 |
|
dc.identifier.other |
PACS: 71.55.–i, 78.67.De |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120945 |
|
dc.description.abstract |
Экспериментально показано, что при смещении акцепторной примеси в квантовых ямах гетероструктур
Si/Si1-xGex от центра к их краю энергия связи основного состояния примеси уменьшается, а
радиус локализации носителей увеличивается. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
Експериментально показано, що при зміщенні акцепторної домішки в квантових ямах гетероструктур
Si/Si1-xGex від центру до їхнього краю енергія зв язку основного стану домішки зменшу
ється, а радіус локалізації носіїв збільшується. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
It is shown experimentally that with shifting
an acceptor impurity in quantum wells of the
Si/Si1–xGex heterostructures from the on-center to
on-edge position its ground state binding energy
decreases and localization radius of charge carriers
increases. |
uk_UA |
dc.description.sponsorship |
Авторы выражают благодарность проф. О.Г. Сарбею
за полезную дискуссию.
Работа выполнена при поддержке совместного
проекта УНTЦ и НАН Украины №3922, программы
фундаментальных исследований НАН Украины «Наноструктурные
системы, наноматериалы, нанотехнологии» (проект № 10/07-H). |
uk_UA |
dc.language.iso |
ru |
uk_UA |
dc.publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Физика низких температур |
|
dc.subject |
Квантовые эффекты в полупpоводниках и диэлектриках |
uk_UA |
dc.title |
Энергетические характеристики примеси бора в гетероструктурах Si/Si1-xGex при селективном легировании в центре и на краю квантовых ям |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Energy characteristics of the boron impurity in the Si/Si1–x Gex heterostructures with on-center and on-edge selective doping of quantum wells |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті