Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Энергетические характеристики примеси бора в гетероструктурах Si/Si1-xGex при селективном легировании в центре и на краю квантовых ям

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Вайнберг, В.В.
dc.contributor.author Гуденко, Ю.Н.
dc.contributor.author Порошин, В.Н.
dc.contributor.author Tулупенко, В.Н.
dc.contributor.author Cheng, H.H.
dc.contributor.author Yang, Z.P.
dc.contributor.author Mashanov, V.
dc.contributor.author Wang, K.Y.
dc.date.accessioned 2017-06-13T10:51:46Z
dc.date.available 2017-06-13T10:51:46Z
dc.date.issued 2007
dc.identifier.citation Энергетические характеристики примеси бора в гетероструктурах Si/Si1-xGex при селективном легировании в центре и на краю квантовых ям / В.В. Вайнберг, Ю.Н. Гуденко, В.Н. Порошин, В.Н. Tулупенко, H.H. Cheng, Z.P. Yang, V. Mashanov, K.Y. Wang // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 10. — С. 1143–1146. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 0132-6414
dc.identifier.other PACS: 71.55.–i, 78.67.De
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120945
dc.description.abstract Экспериментально показано, что при смещении акцепторной примеси в квантовых ямах гетероструктур Si/Si1-xGex от центра к их краю энергия связи основного состояния примеси уменьшается, а радиус локализации носителей увеличивается. uk_UA
dc.description.abstract Експериментально показано, що при зміщенні акцепторної домішки в квантових ямах гетероструктур Si/Si1-xGex від центру до їхнього краю енергія зв язку основного стану домішки зменшу ється, а радіус локалізації носіїв збільшується. uk_UA
dc.description.abstract It is shown experimentally that with shifting an acceptor impurity in quantum wells of the Si/Si1–xGex heterostructures from the on-center to on-edge position its ground state binding energy decreases and localization radius of charge carriers increases. uk_UA
dc.description.sponsorship Авторы выражают благодарность проф. О.Г. Сарбею за полезную дискуссию. Работа выполнена при поддержке совместного проекта УНTЦ и НАН Украины №3922, программы фундаментальных исследований НАН Украины «Наноструктурные системы, наноматериалы, нанотехнологии» (проект № 10/07-H). uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Физика низких температур
dc.subject Квантовые эффекты в полупpоводниках и диэлектриках uk_UA
dc.title Энергетические характеристики примеси бора в гетероструктурах Si/Si1-xGex при селективном легировании в центре и на краю квантовых ям uk_UA
dc.title.alternative Energy characteristics of the boron impurity in the Si/Si1–x Gex heterostructures with on-center and on-edge selective doping of quantum wells uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис