Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Garsia-Garsia, E.
dc.contributor.author Yanez-Limon, M.
dc.contributor.author Vorobiev, Y.
dc.contributor.author Espinoza-Beltran, F.
dc.contributor.author Gonzalez-Hernandez, J.
dc.date.accessioned 2017-03-11T16:27:40Z
dc.date.available 2017-03-11T16:27:40Z
dc.date.issued 1998
dc.identifier.citation Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni / E. Garsia-Garsia, M. Yanez-Limon, Y. Vorobiev, F. Espinoza-Beltran, J. Gonzalez-Hernandez // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 71-74. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1560-8034
dc.identifier.other PACS 61.72.V; 72.80.E
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114673
dc.description.abstract Effects of Ni and Se incorporation on the crystallization kinetics of Ge:Sb:Te alloys have been studied. Both elements were found to increase the stability of the amorphous structure. The kinetics of crystallization under isothermal treatments indicates that Ni reduces both the barrier for thermal crystallization and the crystallization rate. Crystallization of samples containing Se is also retarded, possibly due to a stronger bonding of this element in comparison with Te. uk_UA
dc.description.abstract Вивчено вплив Ni и Se на кiнетику кристалiзацiї Ge:Sb:Te сплавiв. Виявлено, що обидва елементи пiдвищують стабiльнiсть аморфної структури. Кiнетика кристалiзацiї при iзотермiчнiй обробцi показує, що Ni зменшує як бар.єр термiчної кристалiзацiї, так i швидкiсть кристалiзацiї. Кристалiзацiя зразкiв, якi мiстять Se також уповiльнена, можливо завдяки бiльш сильній енергії зв.язку цього елементу в порiвняннi з Te. uk_UA
dc.description.abstract Изучено влияние Ni и Se на кинетику кристаллизации Ge:Sb:Te сплавов. Установлено, что оба элемента повышают стабильность аморфной структуры. Кинетика кристаллизации при изотермической обработке показывает, что Ni уменьшает как барьер термической кристаллизации так и скорость кристаллизации. Кристаллизация образцов, содержащих Se также замедленная, возможно благодаря более сильной энергии связи элемента по сравнению с Te. uk_UA
dc.description.sponsorship One of the authors (E.G.G.) thanks the support of CONACyT of México, and all authors thank Martin Adelaide for his technical assitance. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.title Crystallization kinetics of Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆ doped with Se and Ni uk_UA
dc.title.alternative Кiнетика кристалiзацii Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆, легованого Se i Ni uk_UA
dc.title.alternative Кинетика кристаллизации Ge₂₂Sb₂₂Tе₅₆, легированного Se и Ni uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис