Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Жарков, И.П. ; Иващенко, А.Н. ; Руденко, Э.М. ; Короташ, И.В. ; Краковный, А.А. ; Сафронов, В.В. ; Ходунов, В.А. ; Руденко, А.Э.

Інші назви: Низькотемпературний скануючий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії
The Low-Temperature Device for Microwave Non-Destructive Defectoscopy

Тема: Наукові основи інноваційної діяльності

Інший ID: DOI: doi.org/10.15407/scin9.03.013

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114309

Посилання: Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов, А.Э. Руденко // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 3. — С. 13-18. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Підтримка: Работа выполнена в рамках Программы научного приборостроения НАН Украины.

Дата: 2013

Завантажень: 313

Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии

Анотація:

Разработано новое устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии с минимальными тепловыми шумами и увеличенным отношением сигнал/шум, в котором использован перемещающийся азотный заливной криостат с вмонтированными в него активными микроволновыми элементами.

Розроблено новий пристрій для мікрохвильової неруйнівної дефектоскопії з мінімальними тепловими шумами й збільшеним відношенням сигнал/шум, в якому використано азотний заливний кріостат, що переміщається, із вмонтованими в нього активними мікрохвильовими елементами.

The new device for microwave non-destructive defectoscopy with minimum thermal noises and increased signal / noise ratio, which used scanning nitrogen filled cryostat with integrated active microwave elements, is designed.

Показати повний запис статті