The areas of applicability of kinematic and dynamic theories of parametric X-ray radiation (PXR) of relativistic particles in a crystal are considered. It is shown that dynamic diffraction of the PXR is possible in crystallographic planes with low Miller indexes in the central part of the PXR reflection only, where the PXR yield is weak and masked by other kinds of diffracted radiation. Therefore the properties of the PXR reflection are well described by the kinematic PXR theory. Results of the analysis are compared to experimental data.
Аналізуються області застосовності кінематичної та динамічної теорій параметричного рентгенівського випромінювання (ПРВ) релятивістських частинок у кристалі. Показано, що динамічна дифракція ПРВ можлива тільки на кристалографічних площинах з малими індексами Міллера і тільки в центральній області рефлексу ПРВ, де вихід ПРВ малий і маскується іншими видами, що піддалися дифракції, випромінювань. Тому властивості випромінювання в рефлексі ПРВ добре описуються кінематичною теорією ПРВ. Результати аналізу порівнюються з експериментальними даними.
Анализируются области применимости кинематической и динамической теорий параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) релятивистских частиц в кристалле. Показано, что динамическая дифракция ПРИ возможна только на кристаллографических плоскостях с малыми индексами Миллера и только в центральной области рефлекса ПРИ, где выход ПРИ мал и маскируется другими видами подвергшихся дифракции излучений. Поэтому свойства излучения в рефлексе ПРИ хорошо описываются кинематической теорией ПРИ. Результаты анализа сравниваются с экспериментальными данными.