Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Permissible technological limitations of quadrupole lenses used in parameter multiplets for ion microprobe forming

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Melnik, K.I.
dc.contributor.author Ponomarev, A.G.
dc.date.accessioned 2017-01-08T19:29:39Z
dc.date.available 2017-01-08T19:29:39Z
dc.date.issued 2003
dc.identifier.citation Permissible technological limitations of quadrupole lenses used in parameter multiplets for ion microprobe forming / K.I. Melnik, A.G. Ponomarev // Вопросы атомной науки и техники. — 2003. — № 4. — С. 301-304. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1562-6016
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/111225
dc.description.abstract Parasitic components of lens field are ones of the main parameters that determine spatial resolution of the MeV energy ion microprobe based on parameter multiplet of the magnetic quadrupole lenses. The parameter set of probe-forming systems was examined, the maximum permissible parasitic components of the lens field were computed, technological limitations on pole tips positioning accuracy were determined such that aberrations caused by them did not result in substantial beam degradation. Influence of the field parasitic components on ion-optical properties of multiplets was estimated, and computation technique was presented. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Вопросы атомной науки и техники
dc.subject Приложения и технологии uk_UA
dc.title Permissible technological limitations of quadrupole lenses used in parameter multiplets for ion microprobe forming uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 539.1.078


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис