Кривенюк, В.В.; Авраменко, Д.С.; Приходько, Р.П.
(Проблемы прочности, 2013)
Обосновывается, что метод базовых диаграмм благодаря достаточно точной оценке отклонений отдельных участков экспериментальных диаграмм от соответствующих участков
неизменных базовых диаграмм обеспечивает значительное ...