Мезенцев, А.В.; Миронюк, С.В.; Сотников, А.М.; Таршин, В.А.
(Реєстрація, зберігання і обробка даних, 2015)
Предложена методика локализации информативных участков изображений поверхности визирования, основанная на использовании теории фрактального анализа. Методика используется для оперативного создания эталонных изображений ...