Мокрицкий, В.А.; Ленков, С.В.; Маслов, О.В.; Савельев, С.А.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2001)
Исходные монокристаллы СdZnTe (КЦТ) имеют большое число дефектов, что снижает сопротивление кристалла и увеличивает шумы прибора. Природа и роль подобных дефектов исследованы методом термостимулированной проводимости. Для ...