Перегляд за автором "Прокофьев, Ю.В."

Результати 1-5 з 5

Координатно-чувствительный детектор заряженных частиц для спектроскопии

Сидоренко, В.П.; Прокофьев, Ю.В.; Мурченко, Д.С.; Еременко, В.М.; Шелехов, А.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2016)

Разработан, изготовлен и исследован координатно-чувствительный детектор заряженных частиц для спектроскопии, который может использоваться в аналитической аппаратуре, обеспечивая одновременный анализ всего элементного состава ...
Особенности конструкции и технологии сборки микроэлектронных координатно-чувствительных детекторов

Сидоренко, В.П.; Жора, В.Д.; Радкевич, А.И.; Грунянская, В.П.; Прокофьев, Ю.В.; Таякин, Ю.В.; Вирозуб, Т.М. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2018)

Рассмотрены особенности конструкции и технологии сборки микроэлектронных координатно-чувствительных детекторов заряженных частиц для спектроскопии с использованием гибких носителей типа «алюминий — полиимид». Данная ...
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора нового поколения с расширенным полем анализа для масс-спектрометрии

Сидоренко, В.П.; Радкевич, А.И.; Прокофьев, Ю.В.; Таякин, Ю.В.; Вирозуб, Т.М. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2018)

Разработана специализированная СБИС для микроэлектронных координатно-чувствительных детекторов нового поколения — многокристальных детекторов с расширенным полем анализа, которые могут использоваться в масс-спектрометрах ...
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов

Сидоренко, В.П.; Вербицкий, В.Г.; Прокофьев, Ю.В.; Кизяк, А.Ю.; Николаенко, Ю.Е. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2009)

Разработана СБИС, обеспечивающая одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью и точностью. Ее применение позволяет значительно снизить массу, габариты и энергопотребление детектора.
Схемотехника СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора для элементного анализа материалов

Сидоренко, В.П.; Вербицкий, В.Г.; Прокофьев, Ю.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2012)

Разработана, изготовлена и испытана СБИС, позволяющая в составе микроэлектронного координатно-чувствительного детектора проводить одновременный анализ всего элементного состава материала. Схема обеспечивает срабатывание ...

Результати 1-5 з 5

Пошук

Розширений пошук

Перегляд

Вся бібліотека

Перегляд за автором "Прокофьев, Ю.В."

Репозиторій DSpace/Manakin

Перегляд за автором "Прокофьев, Ю.В."

Пошук

Перегляд

Вся бібліотека

Мій обліковий запис