Балицкая, В.А.; Вакив, Н.М.; Шпотюк, О.И.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2002)
Обсуждаются экспериментальные реузльтаты низкотемпературной деградации терморезисторов с отрицательным ТКС на основе манганитов переходных металлов (Cu, Ni, Co, Mn)₃O₄. Впервые установлено, что, независимо от химического ...