Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Евич, Н.Л.
dc.contributor.author Прокопенко, Ю.В.
dc.date.accessioned 2016-04-10T13:49:13Z
dc.date.available 2016-04-10T13:49:13Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.citation Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности / Н.Л. Евич, Ю.В. Прокопенко // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 4. — С. 462-469. — Бібліогр.: 12 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 1027-9636
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98189
dc.description.abstract Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя uk_UA
dc.description.abstract Розглядаються можливості мікрохвильової метрології міліметрового діапазону електромагнітних хвиль для визначення товщини плоских шарів із діелектричних немагнітних матеріалів, що знаходяться на металевій підкладці або у вільному просторі. Як випромінювач використовується двоплечовий короткозамкнений відрізок діелектричного хвилеводу та електродинамічно пов’язана з ним діелектрична пластина. uk_UA
dc.description.abstract Possibilities of millimeter wavelength microwave metrology for determination of thicknesses of flat layers of nonmagnetic dielectric materials placed on a metal substrate or in free space are considered. As a radiator, a bilateral short-circuited fragment of dielectric waveguide with interconnecting dielectric plate is used. Error estimates in determination of layer thickness and permittivity are given. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Радіоастрономічний інститут НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Радиофизика и радиоастрономия
dc.subject Прикладные аспекты радиофизики и электроники uk_UA
dc.title Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности uk_UA
dc.title.alternative Мікрохвильовий метод визначення товщини діелектричних матеріалів із використанням випромінювача зі скануваннямдіаграмою спрямованості uk_UA
dc.title.alternative Microwave Determination Method of Thicknesses of Dielectric Materials Using a Beam Scanning Radiator uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 621.371


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис