Лизунов, В.В.; Кочелаб, Е.В.; Скакунова, Е.С.; Лень, Е.Г.; Молодкин, В.Б.; Олиховский, С.И.; Толмачёв, Н.Г.; Шелудченко, Б.В.; Лизунова, С.В.; Скапа, Л.Н.
(Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2015)
Построена обобщённая модель дисперсионно чувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов, позволяющая проводить анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для произвольных эффективных толщин кристалла. ...