Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения

dc.contributor.author	Федухин, А.В.
dc.date.accessioned	2015-06-28T15:01:02Z
dc.date.available	2015-06-28T15:01:02Z
dc.date.issued	2004
dc.identifier.citation	Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2004. — № 4. — С. 164-170. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	1028-9763
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/83936
dc.description.abstract	Предлагается метод прогнозирования остаточного ресурса электронных устройств после длительного хранения на основе DN-распределения наработки до отказа.	uk_UA
dc.description.abstract	Запропоновано метод прогнозування залишкового ресурсу електронних пристроїв після тривалого зберігання на основі DN-розподілу наробітку до відмови.	uk_UA
dc.description.abstract	It is offered the method of residual resource of electronic devices forecasting after long storage on the basis of DN-distribution of MTTF.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут проблем математичних машин і систем НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Математичні машини і системи
dc.subject	Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення	uk_UA
dc.title	Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения	uk_UA
dc.title.alternative	Прогнозування надійності електронних пристроїв після тривалого зберігання	uk_UA
dc.title.alternative	Forecasting of electronic devices reliability after long storage	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	621.192 (035)