Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення ядерної фізики та енергетики
→
Вопросы атомной науки и техники
→
Bопросы атомной науки и техники, 2000
→
Вопросы атомной науки и техники, 2000, № 2
→
Переглянути статтю

dc.contributor.author	Kaplij, A.A.
dc.contributor.author	Kulibaba, V.I.
dc.contributor.author	Kuijer, P.
dc.contributor.author	Maslov, N.I.
dc.contributor.author	Ovchinnik, V.D.
dc.contributor.author	Potin, S.M.
dc.contributor.author	Starodubtsev, A.F.
dc.date.accessioned	2015-05-27T12:09:12Z
dc.date.available	2015-05-27T12:09:12Z
dc.date.issued	2000
dc.identifier.citation	Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests / A.A. Kaplij, V.I. Kulibaba, P. Kuijer, N.I. Maslov, V.D. Ovchinnik, S.M. Potin, A.F. Starodubtsev // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 2. — С. 41-45. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.	uk_UA
dc.identifier.issn	1562-6016
dc.identifier.other	PACS: 29.40.Wk
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/82268
dc.description.abstract	The controlling system for detector silicon and for a double-sided microstrip detectors (DSMD) characteristics tests is described.	uk_UA
dc.language.iso	en	uk_UA
dc.publisher	Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Вопросы атомной науки и техники
dc.subject	Еxperimental methods	uk_UA
dc.title	Control complex for a double-sided microstrip detector production and tests	uk_UA
dc.title.alternative	Контролирующий комплекс для производства и испытаний двустороннего микрострипового детектора	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA