dc.contributor.author |
Білик, Т.Ю. |
|
dc.contributor.author |
Шмирєва, О.М. |
|
dc.contributor.author |
Мельниченко, М.М. |
|
dc.date.accessioned |
2015-02-10T12:41:06Z |
|
dc.date.available |
2015-02-10T12:41:06Z |
|
dc.date.issued |
2009 |
|
dc.identifier.citation |
Технологічні методи керування властивостями
наноструктурованого кремнію / Т.Ю. Білик, О.М. Шмирєва, М.М. Мельниченко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 395-402. — Бібліогр.: 9 назв. — укр. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1816-5230 |
|
dc.identifier.other |
PACSnumbers:78.55.Mb,78.67.Rb,81.07.Bc,81.40.Tv,81.65.Cf,85.60.Dw,85.60.Gz |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76425 |
|
dc.description.abstract |
При формуванні наноструктурованого кремнію на підложжях монокристалічного кремнію відбувається зміна не тільки структурних властивостей, що призводить до зміни ширини забороненої зони і прояву квантоворозмірних ефектів, але й утворення на поверхні нових сполук кремнію з
підвищеним вмістом водню й аморфного кремнію. Така складна структура обумовлює прояв нових електрофізичних, фотоелектричних, теплофізичних та фотолюмінесцентних властивостей, що дозволяє створювати
нові типи напівпровідникових приладів, зокрема, фотоприймачі короткохвильової частини спектру. Метою даної роботи є подальше дослідження технологічних метод керування функціональними властивостями наноструктурованого кремнію із застосуванням нових складів щавників. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
Formation of nanoporous silicon on monocrystalline silicon wafers changes
structural properties that results in forbidden-bandwidth change and quantumdimension
effects appearance as well as appearance of new silicon compounds
with higher hydrogen and amorphous-silicon contents on the silicon surface.
Such a complex structure with new electrophysical, photoelectrical, thermophysical,
and photoluminescent properties makes possible new types of semiconductor
devices, in particular, light detectors of short-wave spectral range. Goal
of this work is to study technological methods for governing by functional properties
of nanoporous silicon using new compositions of etching agents. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
При формировании наноструктурированного кремния на подложках монокристаллического кремния происходит изменение не только структурных
свойств, что приводит к изменению ширины запрещенной зоны и проявлению квантово-размерных эффектов, но и к возникновению на поверхности
новых соединений кремния с повышенным содержанием водорода и
аморфного кремния. Такая сложная структура приводит к проявлению новых электрофизических, фотоэлектрических, теплофизических и фотолюминесцентных свойств, что позволяет создавать новые типы полупровод-никовых приборов, в частности, фотоприемники коротковолновой части
спектра. Целью данной работы является дальнейшее изучение технологических методов управления функциональными свойствами наноструктурированного кремния с применением новых составов травителей. |
uk_UA |
dc.language.iso |
uk |
uk_UA |
dc.publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
|
dc.title |
Технологічні методи керування властивостями наноструктурованого кремнію |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Technological Methods for Control of Nanostructured Silicon Properties |
|
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |