Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізики і астрономії
→
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
→
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2009 (том 7)
→
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2009, № 2
→
Переглянути статтю

dc.contributor.author	Гомза, Ю.П.
dc.contributor.author	Клепко, В.В.
dc.contributor.author	Несін, С.Д.
dc.contributor.author	Лисенков, Е.А.
dc.contributor.author	Куницький, Ю.А.
dc.contributor.author	Барабаш, М.Ю.
dc.contributor.author	Хоменко, Л.Г.
dc.date.accessioned	2015-02-10T12:13:45Z
dc.date.available	2015-02-10T12:13:45Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.citation	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок / Ю.П. Гомза, В.В. Клепко, С.Д. Несін, Е.А. Лисенков, Ю.А. Куницький, М.Ю. Барабаш, Л.Г. Хоменко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 2. — С. 411-419. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.	uk_UA
dc.identifier.issn	1816-5230
dc.identifier.other	PACS numbers: 07.85.Jy,61.05.cp,61.41.Vx,68.47.Pe,68.55.am,68.55.J-,81.70.Pg
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76411
dc.description.abstract	З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах цілковитого зовнішнього відбивання. Виконані експерименти з вивчення особливостей близької впорядкованости полімерних і неорганічних плівок товщиною 200—500 нм на підложжях різної природи.	uk_UA
dc.description.abstract	Technique for investigation of short-range ordering in ultrathin epitaxial films is realized using standard x-ray DRON-2.0 diffractometer in the geometry of parallel gliding beams under conditions of total external reflection. Peculiarities of short-range ordering in polymer and inorganic films of 200—500 nm in thickness on various substrates are studied.	uk_UA
dc.description.abstract	С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения. Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200—500 нм на подложках различной природы.	uk_UA
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.publisher	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
dc.title	Рентґенографічні дослідження близької впорядкованости надтонких плівок	uk_UA
dc.title.alternative	X-Ray Examinations of Short-Range Ordering of Ultra-thin Films
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA